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densoku電解式測厚儀的原理及特點
densoku電解式測厚儀的原理及特點
電解膜厚度測量原理
鍍膜厚度是通過陽極電解法溶解鍍膜來測量的，這是一種應(yīng)用規(guī)則測量鍍層厚度的方法 （陽極電解電路見圖1）在鍍膜結(jié)束時，由于測量部分被恒定電流溶解，膜金屬消失，當基體金屬出現(xiàn)時，陽極電壓發(fā)生變化，并且檢測到此電壓變化以結(jié)束測量。（見圖二）
電解膜測厚儀的特點
雖然是破壞型測量，但可以通過簡單的測量來測量，也可以測量多層電鍍。
可測量雙鎳、三鎳各層膜厚及電位差
可以分別測量銅鍍錫時形成的純錫層和合金層的厚度。
可以測量 X 射線無法測量的厚多層鍍層（最大 300 μm）
通過使用線測試儀，可以測量細線的電鍍膜厚度。
使用示例
鍍錫線（鍍錫銅線）純錫層厚度測量
汽車外飾件用Cr/Ni/Cu三層鍍層測量，鍍Ni用
雙鎳/三鎳電位差測量與非破壞性薄膜測厚儀的測量結(jié)果進行交叉檢查
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